ISO 13322-1: 2014

Transmission electron microscopy
  • JEOL/JEM 2100plus
  • 0 2117 6850 ext 0, 6899
  • nctc@nstda.or.th
  • ศูนย์บริการวิเคราะห์ทดสอบ สวทช.
Atomic force Microscope
  • Hitachi/AFM5300E
  • 0 2117 6850 ext 0, 6899
  • nctc@nstda.or.th
  • ศูนย์บริการวิเคราะห์ทดสอบ สวทช.
Atomic force Microscope
  • Hitachi/AFM5500M
  • 0 2117 6850 ext 0, 6899
  • nctc@nstda.or.th
  • ศูนย์บริการวิเคราะห์ทดสอบ สวทช.
Field Emission Scanning electron microscope (FE-SEM)
  • Hitachi/SU8030
  • 0 2117 6850 ext 0, 6899
  • nctc@nstda.or.th
  • ศูนย์บริการวิเคราะห์ทดสอบ สวทช.
Field Emission Scanning electron microscope (FE-SEM)
  • Hitachi/SU5000
  • 0 2117 6850 ext 0, 6899
  • nctc@nstda.or.th
  • ศูนย์บริการวิเคราะห์ทดสอบ สวทช.
Field Emission Scanning electron microscope (FE-SEM)
  • Hitachi/SU8230
  • 0 2117 6850 ext 0, 6899
  • nctc@nstda.or.th
  • ศูนย์บริการวิเคราะห์ทดสอบ สวทช.